當(dāng)用戶的計(jì)算機(jī)經(jīng)常出現(xiàn)藍(lán)屏、死機(jī)現(xiàn)象的時(shí)候除了排查必要的軟硬件問題以外，內(nèi)存的健康狀態(tài)也不可小視，不過檢測(cè)內(nèi)存健康狀態(tài)需要U盤啟動(dòng)盤的幫助，那是如何使用U盤啟動(dòng)盤進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試的呢？請(qǐng)根據(jù)教程中的步驟進(jìn)行處理。

　　怎么使用U盤啟動(dòng)盤進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試？

　　1、將制作好的u盤插入到電腦的 USB 插口處，重啟電腦，按下相應(yīng)的啟動(dòng)快捷鍵進(jìn)入快啟動(dòng)的主菜單界面后選擇“運(yùn)行硬盤內(nèi)存檢測(cè)掃描工具菜單”后按回車鍵確認(rèn)。

　　2、在檢測(cè)工具菜單下利用鍵盤上的方向鍵將光標(biāo)移至“運(yùn)行 Memtest 內(nèi)存檢測(cè)”后按下回車鍵“Enter”鍵確認(rèn)即可。

　　3、當(dāng)我們按下回車鍵時(shí)系統(tǒng)便會(huì)自動(dòng)進(jìn)行內(nèi)存檢測(cè)，檢測(cè)的時(shí)間大約會(huì)在2小時(shí)左右，等待時(shí)間可能有點(diǎn)長(zhǎng)，耐心等待。

　　內(nèi)存檢測(cè)的過程中的相關(guān)數(shù)值說明：

　　Pass：表示檢測(cè)過程中的整體進(jìn)度；

　　Test：表示檢測(cè)當(dāng)前進(jìn)度；

　　WallTime：檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)，大約會(huì)在2小時(shí)左右；

　　Pass：進(jìn)行內(nèi)存檢測(cè)的次數(shù)，經(jīng)過這一次檢測(cè)后，下次檢測(cè)時(shí)這里的數(shù)值將會(huì)是“1”，并且每一次的檢測(cè)都會(huì)累計(jì)上去。

　　Error ECC Errs：檢測(cè)錯(cuò)誤的次數(shù)和地點(diǎn)將會(huì)在此顯示出來。

　　以上步驟便是關(guān)于怎么使用U盤啟動(dòng)盤進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試的方法介紹，其重要使用的工具是MemTest，因?yàn)闄z測(cè)的時(shí)間非常漫長(zhǎng)，建議用戶在睡前或者時(shí)間空閑時(shí)再踐行。